返回 發(fā)布日期: 2025.05.30
在微電子、光刻、生物制藥等高精尖潔凈室中,超低發(fā)塵性是無(wú)塵擦拭布不可妥協(xié)的首要性能指標。它直接關(guān)乎潔凈室環(huán)境穩定性和產(chǎn)品良率,是抵御微粒污染的第一道防線(xiàn)。
實(shí)現超低發(fā)塵性,需從材料本源與精密制造雙重把控:
嚴苛驗證體系是性能的保障:依據IEST-RP-CC004.3標準,通過(guò)滾筒測試(Helmke Drum)模擬實(shí)際擦拭動(dòng)態(tài),精確量化不同粒徑(如≥0.3μm, ≥0.5μm)粒子的釋放量;液體顆粒計數器(LPC)測試則評估在溶劑作用下的溶出粒子。Class 1級(每平方米釋放粒子數極低)是半導體等超凈環(huán)境的入門(mén)門(mén)檻。
超低發(fā)塵性并非孤立指標,需與化學(xué)純凈度、吸液效能協(xié)同平衡。它是潔凈室擦拭布技術(shù)壁壘的體現,更是高端制造領(lǐng)域維持納米級潔凈環(huán)境的戰略基石。選擇擦拭布,即選擇對微粒污染零容忍的承諾。
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